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用于缺陷檢測的工業(yè)二維X射線解決方案專為在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中快速檢測缺陷而設(shè)計(jì)，堅(jiān)固可靠。利用蔡司BOSELLO，自動或手動無損二維X射線檢測可確保高通量和生產(chǎn)率?？焖傺b卸載、循環(huán)時(shí)間短、應(yīng)用靈活，可直接在線或在生產(chǎn)附近使用。

使用ZEISS METROTOM 1500 3D X射線系統(tǒng)，您可以獲得CT技術(shù)，通過捕捉和測量表面下的缺陷，可靠地檢測缺陷。這臺CT的特色：無論是小型或大型部件，以及介于兩者之間的所有部件，都能快速提供高分辨率圖像。

ZEISS BOSELLO OMNIA 二維X射線系統(tǒng)的自動缺陷識別軟件與自動化在線檢測相結(jié)合，確保了快速可靠的缺陷檢測，為您提供質(zhì)量保證。

蔡司BOSELLO MAX 2D X射線檢測系統(tǒng)，可滿足您在生產(chǎn)環(huán)境中的缺陷檢測需求。我們專有的圖像處理算法和計(jì)算機(jī)斷層掃描增強(qiáng)技術(shù)可對各種鑄件進(jìn)行檢測和全面分析?？煽康?D X射線技術(shù)可確保對各種工件進(jìn)行清晰的檢測和質(zhì)量控制，即使在極其惡劣的條件下也不例外。

PRISMO fortis橋式三坐標(biāo)測量機(jī)采用優(yōu)化的材料和全新開發(fā)的校正功能，可在高達(dá)40 °C的溫度下保證高精度。因此，該三坐標(biāo)測量機(jī)也可直接用于生產(chǎn)環(huán)境。通過使用可選的蔡司VAST Rotary Table（ZVR），由于旋轉(zhuǎn)臺移動速度更快，可大幅縮短某些應(yīng)用的測量時(shí)間。

蔡司MultiSEM 706超高速掃描電子顯微鏡，充分運(yùn)用91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進(jìn)行成像。這款獨(dú)特的掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)用于全天候連續(xù)、可靠的運(yùn)行。只需簡單設(shè)置高通量數(shù)據(jù)采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

蔡司Volutome掃描電子顯微鏡超薄切片機(jī)覆蓋了圖像處理、圖像分割和可視化過程，是一款包含軟硬件的端到端解決方案。傳統(tǒng)的SEM載物臺可輕松替換超薄切片機(jī)，將您的三維FE-SEM轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)的多功能FE-SEM，使您的系統(tǒng)能夠適應(yīng)多功能環(huán)境。