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JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。

JEM-Z300FSC場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器(Ω能量過(guò)濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲(chǔ)12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品，能靈活地進(jìn)行測(cè)試排序。

JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無(wú)論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場(chǎng)發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對(duì)電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實(shí)驗(yàn)。

JEM-Z200MF無(wú)磁場(chǎng)透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無(wú)磁場(chǎng)物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強(qiáng)磁場(chǎng)的情況下實(shí)現(xiàn)高分辨率觀察。結(jié)合高次像差校正器，可以實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像。