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JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。

JEM-Z300FSC場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲(chǔ)12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品，能靈活地進(jìn)行測(cè)試排序。

JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場(chǎng)發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對(duì)電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實(shí)驗(yàn)。

JEM-Z200MF無磁場(chǎng)透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場(chǎng)物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強(qiáng)磁場(chǎng)的情況下實(shí)現(xiàn)高分辨率觀察。結(jié)合高次像差校正器，可以實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像。

XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn) XYZ 軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了*的 EFP 算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用 測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。