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簡(jiǎn)要描述：國(guó)儀量子SEM4000X場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款穩(wěn)定通用，靈活高效的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。分辨率可達(dá)1.9nm @1.0kV，輕松應(yīng)對(duì)各種類(lèi)型樣品的高分辨拍樣挑戰(zhàn)，可升級(jí)超級(jí)減速模式，進(jìn)一步提升低壓分辨率。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-06-06訪(fǎng) 問(wèn) 量：79詳細(xì)介紹
| 品牌 | 國(guó)儀量子 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 場(chǎng)發(fā)射 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣 | 加速電壓 | 200 V~30 kV |
| 放大倍率 | 1~1,000,000x | 電子槍類(lèi)型 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 |
國(guó)儀量子SEM4000X場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款穩(wěn)定通用，靈活高效的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。分辨率可達(dá)1.9nm @1.0kV，輕松應(yīng)對(duì)各種類(lèi)型樣品的高分辨拍樣挑戰(zhàn)，可升級(jí)超級(jí)減速模式，進(jìn)一步提升低壓分辨率。同時(shí)采用了多探測(cè)器技術(shù)，鏡筒內(nèi)電子探測(cè)器（UD）可探測(cè)SE和BSE信號(hào)，同時(shí)具有高分辨率性能。倉(cāng)內(nèi)電子探測(cè)器（LD）采用了晶體閃爍體和光電倍增管，具備更高的靈敏度和高效性，圖像具有很好的立體感。中文操作軟件，簡(jiǎn)單易用，豐富的自動(dòng)化功能，如自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散、自動(dòng)對(duì)中等等，可快速獲取高分辨圖像。
國(guó)儀量子SEM4000X場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
| 關(guān)鍵參數(shù) | 分辨率 | 0.9 nm@30 kV, SE |
| 1.2 nm@15 kV, SE | ||
| 1.9 nm@1 kV, SE | ||
| 1.5 nm@1 kV(超級(jí)減速） | ||
| 1.0 nm@15 kV(超級(jí)減速） | ||
| 加速電壓 | 200 V~30 kV | |
| 放大倍率 | 1~1,000,000× | |
| 電子槍類(lèi)型 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
| 樣品室 | 低真空模式 | / |
| 攝像頭 | 雙攝像頭（光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控） | |
| XY行程 | 110 mm | |
| Z行程 | 65 mm | |
| T行程 | -10°~+70° | |
| R行程 | 360° | |
| 探測(cè)器 | 鏡筒內(nèi)電子探測(cè)器 | UD-BSE/UD-SE |
| 倉(cāng)室內(nèi)電子探測(cè)器 | LD | |
| 插入式背散射電子探測(cè)器（BSED） | （五分割，可選配） | |
| 插入式掃描透射電子探測(cè)器（STEM） | ○ | |
| 低真空二次電子探測(cè)器（LVD） | ○ | |
| 能譜儀（EDS） | ○ | |
| 背散射衍射（EBSD） | ○ | |
| 擴(kuò)展 | 樣品交換倉(cāng)（4寸/8寸） | ○ |
| 旋鈕板&軌跡球 | ○ | |
| 雙減速技術(shù)（Duo-Dec） | / | |
| 超級(jí)減速技術(shù) | ○ | |
| 軟件 | 操作軟件 | Windows操作系統(tǒng)，中文SEM軟件 |
| 導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航、軌跡球（選配） | |
| 自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng) |
●標(biāo)配 ○選配 /無(wú)
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